中古分析機器の機器名リスト
走査電子顕微鏡（SEM）5件
ヘリウムリークディテクター3件
液体クロマトグラフ7件
質量ガス分析装置2件
FT-IR1件
蛍光X線分析装置（XRF）5件
X線回折装置（XRD）1件
X線検査装置1件
水素リークディテクター1件
分析機器その他2件
分注機1件
静電分級機2件
分析機器の在庫表
| 機器名称 | メーカー | 型番 | 管理番号 | シリアル | 年式 | 備考 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 液体クロマトグラフ | 島津製作所 Shimadzu | LC-10ADvp／LC202Aシステム | Z24041505 | |||
| 液体クロマトグラフ | 島津製作所 Shimadzu | LC-10ADvp／LC014Aシステム | Z24041504 | |||
| 液体クロマトグラフ | TharSFC | Analytical-2-Pre Oven/Fluid Delivery Module | Z24040116 | |||
| X線検査装置 | 島津製作所 Shimadzu | SMX-90CT | Z24040110 | 2007年 | PCのHDD無し。ソフト有り | |
| 有機元素分析装置 | elementar | vario EL cube | Z24040104 | |||
| 静電分級機 | 東京ダイレック | 309100 | Z24012247 | 2014年 | ||
| 静電分級機 | 東京ダイレック | 3080 | Z24012246 | 2009年 | ||
| 液体クロマトグラフ | ウォーターズ Waters | ２４７５ | Z24011755 | |||
| 液体クロマトグラフ | ウォーターズ Waters | RMA | Z24011754 | |||
| 液体クロマトグラフ | 島津製作所 Shimadzu | RF10AXL | Z24011748 | |||
| 液体クロマトグラフ | 島津製作所 Shimadzu | SCL10AVP | Z24011747 | |||
| FT-IR／赤外顕微鏡システム | 島津製作所 Shimadzu | IRPrestige21/AIM-8800 | Z23121117 | パソコン、ソフトなしジャンク品 | ||
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 島津製作所 Shimadzu | EDX-720 | Z23110604 | |||
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 島津製作所 Shimadzu | EDX-720 | Z23110603 | 2008年 | ||
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 島津製作所 Shimadzu | EDX-GP | Z23110601 | 2011年 | ||
| 質量ガス分析装置 | アルバック Ulvac | BGM-102 | Z23092118 | |||
| 質量ガス分析装置 | アルバック Ulvac | BGM-102 | Z23092116 | |||
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立ハイテク Hitachi High-Tech | TM3000 | Z23082003 | |||
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立ハイテク Hitachi High-Tech | S-3400N | Z23082002 | |||
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立ハイテク Hitachi High-Tech | S-3700N | Z23082001 | |||
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立ハイテク Hitachi High-Tech | S-3500N | Z23022103 | 2002年2月 | ||
| X線回折装置（XRD） | リガク Rigaku | RINT2200ULTIMA | Z22122801 | ２００２年 | ||
| ヘリウムリークディテクター | インフィコン Inficon | P3000XL | Z22122002 | 2012年 | ||
| ヘリウムリークディテクター | インフィコン Inficon | P3000XL | Z22122001 | 2012年 | ||
| ヘリウムリークディテクター | アネルバ ANELVA | A-230M-LD | Z22081601 | |||
| 分注機 | エルメックス | Pro・madia DT cube | Z21032816 | |||
| 蛍光X線分析装置（XRF） | 島津製作所 Shimadzu | EDX-GP | Z20112705 | 2011年 | ||
| 水素リークディテクター | Adixen | H2000 PLUS | Z20072101 | |||
| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日立ハイテクノロジーズ Hitachi High-Technologies | S-2600H | Z20040701 | 2001年 | ||
| 蛍光X線分析装置（XRF） | PANalytical | Z20022627 | ||||
| シリンザサンプラー | リオン Rion | KZ-30W | S20072331 | |||
| TCゲージメーター | アネルバ（ＡＮＥＬＶＡ） | WSC-65 | D072011 |