FT-IRについて【AIを用いた記述】
FT-IR(フーリエ変換赤外分光法)は、物質に赤外線を照射した際に生じる分子振動エネルギーの吸収を測定し、化学構造や状態を分析する手法です。分子を構成する原子間の結合は、特定の周波数の赤外線を吸収して伸び縮みや曲がりといった振動を起こします。物質ごとに吸収する赤外線の波長が異なるため、得られる赤外吸収スペクトルは分子の「指紋」のような役割を果たします。
FT-IRの心臓部にはマイケルソン干渉計と呼ばれる光学系が組み込まれています。光源から出た赤外線はビームスプリッターで2つに分けられ、一方は固定鏡、もう一方は移動鏡へ向かいます。2つの鏡で反射した光が再び合成される際、移動鏡が動くことで光の光路差が生じ、時間とともに強度が変化する干渉波(インテルフェログラム)が形成されます。この干渉波を試料に照射し、透過または反射した光を検出器で記録します。得られた干渉波は光路差(時間)軸のデータであるため、数学的手法であるフーリエ変換を用いて周波数(波数)軸の一般的な赤外スペクトルへ瞬時に換算します。
従来の分散型赤外分光器と比較して、FT-IRには多くの優れた特徴があります。
一つ目はフェルジェットの利得と呼ばれる「測定の高速化と高感度化」です。全波長の光を同時に検出するため、数秒程度で測定が完了します。短時間で多数回の積算処理が行えるため、信号対雑音比(SN比)が飛躍的に向上し、微量な試料でも鮮明なデータを得ることができます。
二つ目はジャキノの利得と呼ばれる「高い光利用効率」です。分散型のように光を制限するスリットが存在しないため、光源のエネルギーを無駄なく検出器に導くことができ、暗い試料でも高い精度で測定可能です。
三つ目はコンヌの利得と呼ばれる「高い波数精度」です。装置内部に波長校正用のレーザーを搭載して移動鏡の位置を厳密に制御しているため、波数の再現性が非常に高く、精密なデータベース検索や差スペクトル解析が容易になります。
さらに、非破壊分析が可能であることや、ATR(全反射測定)法などの様々なアタッチメントを活用することで、固体、液体、気体、薄膜など多様な形態の試料を、ほとんど前処理なしで測定できる汎用性の高さも大きな強みです。
この優れた特性により、FT-IRは多種多様な分野で活用されています。
「同定・構造解析」の分野では、ピークの位置から官能基(水酸基やカルボニル基など)を同定したり、広大なスペクトルライブラリと照合して未知の有機化合物や高分子材料を瞬時に特定します。
「異物分析・不具合解析」においては、製品に付着した微小なゴミや汚れ、変色原因の特定に用いられます。赤外顕微鏡と組み合わせた顕微FT-IRを使用すれば、数マイクロメートルサイズの微少異物も正確に解析できます。
「定量分析」では、特定ピークの吸収強度(吸光度)が濃度に比例するランベルト・ベールの法則を利用し、混合物中の成分濃度やプラスチック中の添加剤量、硬化性樹脂の反応率などを測定します。
主な適応分野は、高分子材料、医薬品、化学、半導体、食品、環境分析(マイクロプラスチックの特定など)に至るまで、研究開発から品質管理、トラブルシューティングに至る幅広い現場で欠かせない分析手法となっています。
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| 機器名称 | メーカー | 型番 | |
|---|---|---|---|
| FT-IR/赤外顕微鏡システム | 島津製作所 Shimadzu | IRPrestige21/AIM-8800 | 在庫なし |
| FT-IR | 日本分光 Jasco | FT/IR-6100 | 在庫なし |
| FT-IR | 島津製作所 Shimadzu | IRTracer-100 | 在庫なし |
| FT-IR | 日本分光 Jasco | FT/IR-4200 | 在庫なし |
| FT-IR | 日本分光 Jasco | FT/IR-4200 | 在庫なし |
| FT-IR | 島津製作所 Shimadzu | FTIR-8400 | 在庫なし |
| FT-IR | サーモフィッシャーサイエンティフィック | Nicolet iS5 | 在庫なし |
| FT-IR | 島津製作所 Shimadzu | FTIR-8400 | 在庫なし |
