中古機 非接触段差測定機 ユニオン光学製、型式HISOMETⅡのご紹介

【AIによる装置概要】
本装置は、独自のターゲット投影（割ピント）方式を採用した非接触型の微小段差測定機です。対象物に物理的に触れることなく、表面の段差、溝の深さ、透明体の厚みなどを高精度に測定できる点が最大の特長です。

測定原理として、光学系に内蔵されたターゲットマークをサンプル表面に投影し、ピントが完全に合うとマークが1本の直線になり、ピントがずれると2つに分かれて見える現象を利用しています。これにより、測定者ごとの目視によるピント合わせの誤差を大幅に低減し、再現性の高いシビアなZ軸（高さ）測定を可能にしています。

精密加工部品、半導体ウェハー、プリント基板、樹脂成形品など、接触式の測定機では傷や変形のリスクがあるデリケートなサンプルの検査に最適です。Z軸の最小読取値は0.1μmレベルに対応しており、ミクロン単位の微細な凹凸を正確に数値化します。また、XYステージを併用することで、平面方向の位置決めや寸法測定もスムーズに行うことができます。製造現場の品質管理から研究開発部門での精密測定まで、幅広いニーズに対応する信頼性の高い測定機です。

【AIによる参考仕様】
測定方式：非接触式（ターゲット投影・割ピント方式）
観察方式：双眼正立像
総合倍率：50x ～ 400x（※搭載する対物・接眼レンズの組み合わせによる）
対物レンズ：5x / 10x / 20x / 40x 等（構成に依存）
Z軸測定範囲：30 mm（代表的な標準構成例）
Z軸最小読取値：0.1 μm / 0.5 μm / 1.0 μm（接続されるデジタルカウンタの設定に依存）
XYステージ移動量：50 × 50 mm または 100 × 100 mm（搭載ステージにより異なる）
照明装置：同軸落射照明（ハロゲンランプ等）
電源：AC100V
※中古機械のため、搭載されているレンズ、ステージ、表示器の構成によって実際の仕様数値が異なる場合があります。