中古機 ソーラーセルスキャナー　太陽電池セル評価装置／接触抵抗測定器 Sunlab B.V.製、型式SCRA 10 9001のご紹介

【AIによる装置概要】
本装置は、完成した結晶シリコン太陽電池セルにおける電極（フロントグリッド）と半導体間の接触抵抗、およびフィンガー電極の線抵抗を非破壊でマッピング測定・評価する専用検査システムです。従来のTLM（Transfer Length Method）法のように専用のテストパターンを作成したり、セルを切断したりする破壊検査を必要とせず、実物セル全面の抵抗値分布を直接かつ視覚的に取得できる点が最大の特徴です。

微小な金属プローブを用いてセル表面をスキャンしながら局所的な電位降下を高精度に測定することにより、接触抵抗の面内不均一性や、焼成プロセスに起因する電極形成不良（局所的なコンタクト不良、フィンガーの断線など）を正確に特定します。測定ピッチはサブミリメートル単位で詳細に設定可能であり、セル面内に存在する数mΩ·cm²オーダーの微小な抵抗変動を2次元マップとして可視化します。これにより、太陽電池製造工程におけるスクリーン印刷プロセスや焼成炉の温度プロファイルの最適化、ロットごとの品質管理、および次世代高効率セルの研究開発において、極めて重要な定量的データを提供します。

【AIによる参考仕様】
・測定対象: 結晶シリコン太陽電池セル（単結晶・多結晶セルなど）
・対応サンプルサイズ: 最大 156 mm × 156 mm（標準6インチセルサイズ準拠）
・主な測定・評価項目:
　- 接触抵抗（Contact Resistance / ρc）マッピング
　- フィンガー電極線抵抗（Line Resistance）マッピング
・測定原理: 局所電流注入および高精度スキャニングプローブを用いた微小電位分布測定
・接触抵抗測定範囲: 約 1 mΩ·cm² ～ 100 mΩ·cm²
・空間分解能（スキャンピッチ）: 0.1 mm ～ 1.0 mm（ソフトウェア上で任意設定可能）
・測定時間: 約 1 ～ 3 分 / セル（設定する空間分解能およびスキャンエリアに依存）
・データ処理・出力形式: 2次元カラーマッピング画像、ヒストグラム、統計データ（平均値、標準偏差、最大・最小値）
・制御・解析: 専用PCおよび付属の測定・解析ソフトウェアによる自動スキャン・データ処理
・用途: メタライゼーション工程（印刷・焼成）のプロセス最適化、製造ラインの不具合解析、R&Dにおける新規ペースト評価