中古機 オムニライト 三栄技研 SAN-EI GIKEN製、型式8M36のご紹介

【AIによる装置概要】
本装置は、半導体ウェハー、液晶ガラス基板、光学レンズ、各種機能性フィルムなどの表面状態を目視検査するための高輝度集光型・表面検査用照明装置です。肉眼や一般的な室内照明では発見が極めて困難な数ミクロンレベルの微細なキズ、パーティクル（異物・ホコリ）、付着物、ヘイズ（曇り）、研磨ムラなどを高精度に可視化する目的で設計されています。

技術的な最大の特徴は、人間の視覚感度が最も高いとされる緑色波長（ピーク波長546nm付近）を主波長とした専用の光源を採用している点です。これにより、強力な光を照射した際における検査員の目の負担や疲労を最小限に抑えつつ、対象物表面の欠陥を高いコントラストで鮮明に浮かび上がらせることが可能となっています。

また、装置内部に組み込まれた特殊な光学系レンズと高効率な反射鏡によって光を的確に集光し、検査に必要とされる極めて高い照度と、均一な照射エリアを安定して提供します。製造工程におけるインライン検査、出荷前の品質保証、クリーンルーム内での歩留まり改善など、厳格な外観品質が求められる製造現場において、効率的かつ正確な目視検査を支援する装置として広く活用されています。

【AIによる参考仕様】
・光源種類：緑色メタルハライドランプ
・ランプ定格出力：800W
・主波長：約 546 nm （グリーン光）
・光学方式：専用集光レンズおよび反射鏡によるダイレクト照射方式
・最大照度：約 300,000 lx （※標準的な照射距離400mm前後において）
・冷却方式：強制空冷方式（冷却ファン内蔵）
・入力電源：単相 AC100V / AC200V （50/60Hz対応）
・設計ランプ寿命：約 2,000 時間
・主な検査対象：シリコンウェーハ、ガラス基板、カラーフィルター、プリント基板、金属加工面、樹脂フィルムなどの表面欠陥検査

※上記は該当モデルおよび同シリーズ（800Wクラス）における一般的なメーカー公称データに基づく参考仕様です。中古機器のため、現在のランプの消耗状態、搭載されている焦点レンズのオプション仕様、および付属する電源ユニットのバージョンによって、実際の照度や照射範囲などの数値が異なる場合があります。