中古 金属顕微鏡
メーカー名
ニコン Nikon
型式OPTIPHOT-100
年式表記:
仕様:CCDカメラ、コントローラー付PC無し
仕様:CCDカメラ、コントローラー付PC無し
本体価格(税別、送料別)
150,000円
【AIによる装置概要】
本装置は、半導体ウェハや電子部品、金属組織などの検査・観察に広く用いられる工業用落射顕微鏡です。独自のCF(色収差補正)光学系を採用しており、視野周辺までコントラストが高く、色ニジミや歪みの少ないシャープな画像を取得できる点が特徴です。
名称が示す通り、最大100mm(4インチ)クラスの試料に対応可能な大型のメカニカルステージを搭載しています。X軸・Y軸方向へそれぞれ約100mmのストロークを持ち、スムーズな移動操作により、広範囲のスクリーニング観察や特定部位の精密な位置合わせを効率的に行うことができます。基本的な明視野観察に加え、各種ユニットの構成次第で暗視野、偏光、微分干渉(DIC)などの多様な観察手法にも対応しうる堅牢な設計となっています。
本構成においては、三眼鏡筒部に画像取得用のCCDカメラが接続されており、専用のカメラコントローラーが付属しています。これにより、接眼レンズによる目視観察だけでなく、外部モニター等へ映像を出力しての検査や、複数人での同時確認が可能です。なお、画像のデジタル保存や詳細な計測・画像処理等を行うためのPC本体およびソフトウェアは付属していないため、システム環境を構築する際は用途に合わせて別途ご用意いただく必要があります。
【AIによる参考仕様】
光学系:CF(色収差補正)光学系
用途:工業用落射観察(金属組織・半導体・電子部品など)
鏡筒:三眼鏡筒(カメラポート搭載)
照明方式:落射照明(12V 50Wハロゲンランプ等)
観察手法:明視野(※装着されているレンズやユニット構成により暗視野・偏光・微分干渉に対応可能)
対物レンズマウント:標準RMSスレッド(M20.32×0.706)
ステージ移動量:X軸 約100mm × Y軸 約100mm
最大対応試料サイズ:100mm(4インチ)ウェハ相当
付属カメラ機器:CCDカメラ、カメラコントローラー
PC・ソフトウェア:非付属(外部出力・データ保存には別途必要)
本装置は、半導体ウェハや電子部品、金属組織などの検査・観察に広く用いられる工業用落射顕微鏡です。独自のCF(色収差補正)光学系を採用しており、視野周辺までコントラストが高く、色ニジミや歪みの少ないシャープな画像を取得できる点が特徴です。
名称が示す通り、最大100mm(4インチ)クラスの試料に対応可能な大型のメカニカルステージを搭載しています。X軸・Y軸方向へそれぞれ約100mmのストロークを持ち、スムーズな移動操作により、広範囲のスクリーニング観察や特定部位の精密な位置合わせを効率的に行うことができます。基本的な明視野観察に加え、各種ユニットの構成次第で暗視野、偏光、微分干渉(DIC)などの多様な観察手法にも対応しうる堅牢な設計となっています。
本構成においては、三眼鏡筒部に画像取得用のCCDカメラが接続されており、専用のカメラコントローラーが付属しています。これにより、接眼レンズによる目視観察だけでなく、外部モニター等へ映像を出力しての検査や、複数人での同時確認が可能です。なお、画像のデジタル保存や詳細な計測・画像処理等を行うためのPC本体およびソフトウェアは付属していないため、システム環境を構築する際は用途に合わせて別途ご用意いただく必要があります。
【AIによる参考仕様】
光学系:CF(色収差補正)光学系
用途:工業用落射観察(金属組織・半導体・電子部品など)
鏡筒:三眼鏡筒(カメラポート搭載)
照明方式:落射照明(12V 50Wハロゲンランプ等)
観察手法:明視野(※装着されているレンズやユニット構成により暗視野・偏光・微分干渉に対応可能)
対物レンズマウント:標準RMSスレッド(M20.32×0.706)
ステージ移動量:X軸 約100mm × Y軸 約100mm
最大対応試料サイズ:100mm(4インチ)ウェハ相当
付属カメラ機器:CCDカメラ、カメラコントローラー
PC・ソフトウェア:非付属(外部出力・データ保存には別途必要)
