中古 金属顕微鏡
メーカー名
オリンパス Olympus
型式MX40
年式表記:
仕様:
仕様:
本体価格(税別、送料別)
300,000円
【AIによる装置概要】
本装置は、半導体ウェーハ、プリント基板、電子部品、金属材料などの精密検査や表面解析に広く用いられる正立型の検査用顕微鏡です。無限遠補正技術であるUIS(Universal Infinity System)光学系を搭載しており、色収差を高度に補正したフラットで高コントラストな画像を安定して取得できる点が特徴です。
基本となる落射明視野観察に加え、暗視野、簡易偏光、微分干渉(DIC)といった多様な観察手法に対応しており、微細なスクラッチやパターンの段差、表面の欠陥などを高精度に検出することが可能です。本体には剛性の高いY字型フレームを採用しているため、高倍率観察時における微小な振動の影響を最小限に抑え、クリアな視野を維持します。
最大150mm(6インチ)サイズのウェーハや大型サンプルの搭載を想定しており、X軸およびY軸ともに150mmの広い可動ストロークを持つメカニカルステージを備えています。フォーカスハンドルやステージ移動ノブなどの操作系は、長時間の使用でも疲労を軽減するよう人間工学に基づいて配置されています。研究開発の解析用途から、製造ラインにおける品質管理や歩留まり検査まで、精度の高いルーチンワークを支える設計となっています。
【AIによる参考仕様】
光学系:UIS(無限遠補正光学系)
主な観察手法:落射明視野、落射暗視野、簡易偏光、微分干渉(DIC)
最大対応サンプルサイズ:150mm(6インチ)ウェーハおよび基板
ステージ移動ストローク:X軸 150mm × Y軸 150mm
照明装置:12V50W または 12V100W ハロゲンランプ内蔵可能
フォーカス機構:粗微動共軸ハンドル(微動最小読取値 1μm)
レボルバー:5穴 または 6穴(明暗視野対応)
鏡筒:双眼 または 三眼鏡筒
フレーム構造:制振性に優れた高剛性Y字型フレーム
※中古品のため、実際の搭載レンズやユニット構成により仕様が異なる場合があります。
本装置は、半導体ウェーハ、プリント基板、電子部品、金属材料などの精密検査や表面解析に広く用いられる正立型の検査用顕微鏡です。無限遠補正技術であるUIS(Universal Infinity System)光学系を搭載しており、色収差を高度に補正したフラットで高コントラストな画像を安定して取得できる点が特徴です。
基本となる落射明視野観察に加え、暗視野、簡易偏光、微分干渉(DIC)といった多様な観察手法に対応しており、微細なスクラッチやパターンの段差、表面の欠陥などを高精度に検出することが可能です。本体には剛性の高いY字型フレームを採用しているため、高倍率観察時における微小な振動の影響を最小限に抑え、クリアな視野を維持します。
最大150mm(6インチ)サイズのウェーハや大型サンプルの搭載を想定しており、X軸およびY軸ともに150mmの広い可動ストロークを持つメカニカルステージを備えています。フォーカスハンドルやステージ移動ノブなどの操作系は、長時間の使用でも疲労を軽減するよう人間工学に基づいて配置されています。研究開発の解析用途から、製造ラインにおける品質管理や歩留まり検査まで、精度の高いルーチンワークを支える設計となっています。
【AIによる参考仕様】
光学系:UIS(無限遠補正光学系)
主な観察手法:落射明視野、落射暗視野、簡易偏光、微分干渉(DIC)
最大対応サンプルサイズ:150mm(6インチ)ウェーハおよび基板
ステージ移動ストローク:X軸 150mm × Y軸 150mm
照明装置:12V50W または 12V100W ハロゲンランプ内蔵可能
フォーカス機構:粗微動共軸ハンドル(微動最小読取値 1μm)
レボルバー:5穴 または 6穴(明暗視野対応)
鏡筒:双眼 または 三眼鏡筒
フレーム構造:制振性に優れた高剛性Y字型フレーム
※中古品のため、実際の搭載レンズやユニット構成により仕様が異なる場合があります。
