中古 大面積導電率測定器
メーカー名
三菱ケミカルアナリテック
型式MCP-ST50
年式表記：
仕様:
仕様:
本体価格(税別、送料別)
600,000円
【AIによる装置概要】
本装置は、フラットパネルディスプレイ（FPD）、タッチパネル、太陽電池パネルなどに用いられる大面積基板上の透明導電膜や金属薄膜のシート抵抗、体積抵抗率、導電率を高精度に評価するための専用測定システムです。定電流印加方式の直流四探針法を採用しており、接触抵抗やリード線抵抗の影響を排除することで、薄膜の微小な抵抗変動を正確に捉えることが可能です。10μAから100mAまでの幅広い定電流出力機能を備え、低抵抗から中高抵抗まで広範な導電性領域の測定に対応しています。
また、本モデルは大面積サンプルを切断することなくそのまま搭載できる専用の大型ステージを備えており、基板の面内分布評価や多点でのマッピング測定に最適です。これにより、成膜プロセスにおける膜厚の均一性や導電性のばらつきを定量的に把握することが可能となり、研究開発から製造ラインにおける品質管理まで幅広い用途で活用されます。
【AIによる参考仕様】
測定方式：直流定電流印加 四端子四探針法
測定パラメータ：シート抵抗、体積抵抗率、導電率
シート抵抗測定範囲：1.0×10^-3 ～ 9.99×10^7 Ω/sq.
定電流出力範囲：10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA
最大印加電圧：約90V
最大対応サンプルサイズ：500 mm × 500 mm
測定プローブ：専用直列4探針プローブ
外部インターフェース：RS-232C / USB
電源仕様：AC100V ～ 240V（50/60Hz）
本装置は、フラットパネルディスプレイ（FPD）、タッチパネル、太陽電池パネルなどに用いられる大面積基板上の透明導電膜や金属薄膜のシート抵抗、体積抵抗率、導電率を高精度に評価するための専用測定システムです。定電流印加方式の直流四探針法を採用しており、接触抵抗やリード線抵抗の影響を排除することで、薄膜の微小な抵抗変動を正確に捉えることが可能です。10μAから100mAまでの幅広い定電流出力機能を備え、低抵抗から中高抵抗まで広範な導電性領域の測定に対応しています。
また、本モデルは大面積サンプルを切断することなくそのまま搭載できる専用の大型ステージを備えており、基板の面内分布評価や多点でのマッピング測定に最適です。これにより、成膜プロセスにおける膜厚の均一性や導電性のばらつきを定量的に把握することが可能となり、研究開発から製造ラインにおける品質管理まで幅広い用途で活用されます。
【AIによる参考仕様】
測定方式：直流定電流印加 四端子四探針法
測定パラメータ：シート抵抗、体積抵抗率、導電率
シート抵抗測定範囲：1.0×10^-3 ～ 9.99×10^7 Ω/sq.
定電流出力範囲：10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA
最大印加電圧：約90V
最大対応サンプルサイズ：500 mm × 500 mm
測定プローブ：専用直列4探針プローブ
外部インターフェース：RS-232C / USB
電源仕様：AC100V ～ 240V（50/60Hz）