中古 シグマ光機 ステージコントローラー SHOT-302GS
この商品は売却済みです(2025年8月)。同じ型式をお探しでしたら、お知らせください。
- メーカー
- シグマ光機
- 型式
- SHOT-302GS
- 機種
- ステージコントローラー
- 管理番号
- Z25080116
- 引渡・支払
- 現状有姿/出荷前銀行振込(公的機関は後払い可)
SHOT-302GS の参考仕様
型式の一般的な値を、AIがメーカー資料などから調べたものです。この個体を測った値ではありません。
| 種別 | 2軸ステージコントローラ(マイクロステップドライバ内蔵) |
|---|---|
| 制御軸数 | 2 軸 |
| 最大分割数 | 250 分割 |
| 駆動電流 | 0.25〜1.4A/相 |
| インタフェース | RS-232C / GP-IB / USB |
| 電源 | AC100〜240V 50/60Hz・160VA |
| 外形寸法 | 270×118×302 mm |
| 質量 | 5.5 kg |
出典: jp.optosigma.com
ステージコントローラーとは
機種一般の解説です(AIによる記述)。この個体の仕様ではありません。
ステージコントローラーは、位置決め装置である電動ステージの動作を正確に制御するための専用電子機器です。外部からの指示を受けてモータを駆動し、指定された位置へ高精度かつスムーズに移動させる役割を担っています。
ステージコントローラーの主な仕組みは、上位機器(パソコンやPLCなど)からの移動コマンドを受信し、それをモータを動かすための電気信号(パルス信号やアナログ電圧信号)に変換・出力することです。制御方式には大きく分けてオープンループ制御とクローズドループ制御の2種類が存在します。
オープンループ制御は主にステッピングモータで用いられ、指定されたパルス数に応じて一定の角度だけモータを回転させます。構造がシンプルでコストを抑えられる反面、過度な負荷がかかると脱調(位置ズレ)を起こすリスクがあります。
一方、より高精度が求められる環境ではクローズドループ制御が採用されます。この方式では、ステージ側に取り付けられたリニアエンコーダなどの位置検出器から、現在の正確な位置情報をリアルタイムでコントローラーへフィードバックします。コントローラー内部の演算回路は、目標位置と現在の実位置の差分(位置偏差)を常に計算し、PID制御アルゴリズムなどを用いてモータへの供給電流や電圧を修正し続けます。これにより、外乱や負荷の変動があっても極めて高い精度で目標位置へ到達・停止させることができます。
ステージコントローラーの大きな特徴として、まず挙げられるのがサブミクロンからナノメートルオーダーに至る圧倒的な位置決め分解能と再現性です。微小な移動指令を正確に追従させるため、内部には高速かつ高度な演算処理能力が備わっています。
また、複数軸の同期制御機能も重要な特徴です。平面的なXY軸の動きだけでなく、高さ方向(Z軸)、回転方向(θ軸)、チルト(傾き)方向など、複数のモータを同時に協調動作させることができます。これにより、空間上の複雑な軌道を描く直線補間や円弧補間といった高度なモーションコントロールが可能になります。
さらに、スムーズな動作を実現するための加減速制御機能も搭載されています。急激な発進や停止は装置の振動を引き起こし、位置決め時間の遅延や精度の低下につながります。コントローラーはS字曲線などの滑らかな加減速パターンを生成することで、移動中の振動を抑え、目標位置に到達してから完全に静止するまでの「定着時間」を大幅に短縮します。通信面においては、USB、Ethernet、RS-232C、EtherCATなどの標準的なインターフェースに対応しており、専用ソフトウェアや各種プログラミング言語を介して自動化システムへ容易に組み込める拡張性を備えています。
ステージコントローラーの用途は、超精密な位置決めが不可欠な産業・研究の最前線に多岐にわたって存在します。
半導体および電子部品の製造・検査工程では、ウエハの露光装置、アライメント装置、外観検査装置などに広く使用されています。回路パターンが極小化するなか、ナノメートル単位での正確な位置合わせを高速で行うために欠かせない存在です。
光学・レーザー加工分野においては、レンズやミラーの精密位置調整、レーザー顕微鏡の自動焦点合わせ、微細レーザー加工機でのビーム走査制御などに利用されます。光軸のわずかなズレも許されない環境下で、安定した位置決めを提供します。
バイオ・医療分野では、顕微鏡ステージを用いた細胞の自動観察や画像統合、マイクロマニピュレーターによる遺伝子注入や受精操作、創薬におけるハイスループットスクリーニング装置などで活用されています。
精密測定・検査分野においては、三次元測定機、電子顕微鏡(SEM/TEM)、表面粗さ計、AFM(原子間力顕微鏡)などで、測定ヘッドや試料を高精度にスキャン・移動させるためのコアコンポーネントとして組み込まれています。



