中古 日立 Hitachi 走査電子顕微鏡（SEM） S-3500N
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- 支払い・納期・返品について(よくある質問)
- メーカー
- 日立 Hitachi
- 型式
- S-3500N
- 機種
- 走査電子顕微鏡（SEM）
- 年式
- 2002年2月
- 仕様
- EMAX故障
- 管理番号
- Z23022103
- 引渡・支払
- 現状有姿/出荷前銀行振込(公的機関は後払い可)
S-3500N の参考仕様
型式の一般的な値を、AIがメーカー資料などから調べたものです。この個体を測った値ではありません。
| 分解能 | 3.0(高真空)/5.0(低真空) nm |
|---|---|
| 倍率 | 15〜300,000 倍 |
| 最大試料寸法 | 150(オプションで200) mm径 |
| 試料ステージ | 5軸(5軸/2軸モータードライブ搭載可) |
| 加速電圧 | 0.3〜30 kV |
| 低真空の圧力設定範囲 | 1〜270 Pa |
| 電子銃 | 熱電子放出型タングステンヘアピンフィラメント |
| 検出器 | 二次電子検出器(高真空)、反射電子検出器(低真空) |
※分解能・倍率・試料寸法・ステージは社内保管の日製産業 分析機器総覧(日立 S-3500N/H の頁)による
※加速電圧・低真空の圧力範囲・電子銃は公的機関の設備紹介による二次情報
※Hタイプは高真空専用で、低真空での観察はNタイプだけ
※掲載の仕様欄に「EMAX故障」とあり、この個体のX線分析装置(EMAX)は故障している
※外形寸法・質量・電源は資料が無く未記載
出典: メーカー資料、nanonet.go.jp
日立 Hitachi S-3500N の装置概要 AIによる記述です
電子線を細く絞って試料の表面を走査し、出てくる二次電子や反射電子を検出して拡大像にする走査電子顕微鏡(SEM)で、試料室の圧力を上げた低真空でも観察できるNタイプ。低真空では試料の帯電が起こりにくいため、導電処理をしていない絶縁物や、水分や油分を含む試料もそのまま反射電子像で観察できる。PCで操作する形の走査電子顕微鏡として作られ、日本語表示の画面から条件を設定する。
分解能は高真空で3.0nm、低真空で5.0nm、倍率は15〜300,000倍、試料寸法は最大150mm径(オプションで200mm径)。電子銃は熱電子放出型のタングステンヘアピンフィラメントで、加速電圧は0.3〜30kV、低真空の圧力は1〜270Paの範囲で設定する。試料ステージは5軸で、モータードライブ(5軸/2軸)を搭載できる。エネルギー分散型X線分析装置を組み合わせて元素分析に使う構成もある。
※AIによる参考情報です。実際の仕様・付属品・状態は個体により異なります。ご不明な点はお問い合わせください。
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