中古 日立 Hitachi 走査電子顕微鏡（SEM） S-3000N
本体価格(税別、送料別)1,200,000円
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- メーカー
- 日立 Hitachi
- 型式
- S-3000N
- 機種
- 走査電子顕微鏡（SEM）
- 年式
- 2002年
- 管理番号
- Z26012901
- 引渡・支払
- 現状有姿/出荷前銀行振込(公的機関は後払い可)
S-3000N の参考仕様
型式の一般的な値を、AIがメーカー資料などから調べたものです。この個体を測った値ではありません。
| 二次電子像分解能 | 3.5(25kV、高真空モード) nm |
|---|---|
| 反射電子像分解能 | 5.0(25kV、可変圧力モード) nm |
| 加速電圧 | 0.3〜30 kV |
| 倍率 | 15〜300,000 倍 |
| 可変圧力範囲 | 1〜270 Pa |
| 電子源 | タングステンフィラメント |
| 最大試料寸法 | 直径150×高さ20 mm |
| ステージ移動範囲 | X=100、Y=50、Z=5〜40 mm |
| 試料傾斜/回転 | 傾斜0〜60度、回転360度 |
| 検出器 | 二次電子(高真空のみ)、反射電子、吸収電子 |
| EDX取付条件 | ワーキングディスタンス15mm、取出角35度 |
※数値は米イリノイ大学シカゴ校の共用装置ページ(メーカー仕様の転載)による二次情報。日立ハイテクの現行サイトに本型式の仕様は残っていない
※EDXは別構成。検出器の種類(Si(Li)/SDD)と分析ソフトは個体ごとに異なる
出典: rrc.uic.edu
日立 Hitachi S-3000N の装置概要 AIによる記述です
電子線で試料表面を走査し、発生する二次電子や反射電子で表面の形態や組成の違いを観察する走査電子顕微鏡です。熱電子源としてタングステンフィラメントを使います。
高真空モードに加え、試料室の圧力を1〜270 Paに保つ可変圧力(低真空)モードを備え、導電性の無い試料や水分を含む試料を、コーティングなしで反射電子像により観察できます。二次電子像分解能は3.5 nm(25 kV、高真空)、反射電子像分解能は5.0 nm(25 kV、可変圧力)、加速電圧は0.3〜30 kV、倍率は15〜300,000倍です。
直径150 mmまでの試料を載せられ、ステージは傾斜0〜60度・360度回転に対応します。EDX(エネルギー分散型X線分析)はワーキングディスタンス15 mm・取出角35度で取り付ける構成ですが、検出器の有無と種類は個体ごとに異なります。
※AIによる参考情報です。実際の仕様・付属品・状態は個体により異なります。ご不明な点はお問い合わせください。
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